利用超聲波散射來考察金屬晶粒及組織的可能性，早在1946年(美國)和1948年(蘇聯)就已經提出來了。但由于試驗技術上的困難和不容易驗證理論結果，研究工作進展緩慢。針對該項研究開展了大量實驗及理論分析工作，涉及到的文獻非常多。對上述研究結果加以歸納，可得出有關晶粒度超聲波無損表征的基本結論:

1) 由于初始條件與實際測量之間的差別(例如，晶粒也許并非隨機取向的，也許在晶界上有沉積、晶粒夾雜或孿晶等)，因此通用測試條件下定量實驗結果與理論之間很難獲得好的一致性，一致性程度取決于模型與具體實驗對象之間的差異程度。

2) 在得到控制的條件下，利用超聲波散射測量晶粒大小的理論和實驗之間有著相當良好的一致性。只要精心測量，并能與構成其特征的有關信息之間建立相關關系，超聲波散射就能用來估測晶粒的大小，但只能在比較的基礎上進行。

對于晶粒內沒有亞結構的簡單組織，以及不考慮第二相、晶界及沉淀物影響的情況而言，晶粒度的超聲波表征與顯微組織的超聲波表征內容基本是一致的。但是實際生產中所用的很多材料往往具有復雜的相結構，因此接收到的信號中包含了超聲波與晶粒、晶界、第二相等綜合作用的影響，對這類材料進行超聲波表征的難度則更大。

由于多晶材料中晶粒的超聲波散射是構成散射系數的主要原因，因此可以通過測量衰減系數的方法來表征多晶材料的平均晶粒度。又由于超聲波與材料之間的相互作用與超聲波的波長之間有密切關系，也就是與超聲波頻率有相關性，因此，針對利用超聲波衰減系數及衰減譜進行多晶材料晶粒尺寸表征開展了大量研究工作并取得了成果。

根據材料的平均晶粒尺寸D與超聲波波長λ之間比值的不同，超聲波散射衰減與D以及頻率f滿足不同的散射機理:

①當λ>>D，屬于瑞利散射，。

②當λ≈D，屬于隨機散射，。

③當λ< 。

本書主要從以下幾方面進行介紹:

(1）衰減法  根據待測部件種類及對晶粒尺寸的評估要求，該方法在制備標準試樣時要經過固溶退火以保證獲得均勻的微觀組織。要在試樣中獲得感興趣的晶粒尺寸范圍，需要通過熱處理或熱處理后的冷加工工藝獲得。同時要根據樣品尺寸和衰減情況來選擇超聲波探頭以及檢測頻率。

首先要用金相學方法估計試樣的平均晶粒度并作記錄，然后利用衰減測量方法，在不同頻率下，精確測量所有標準試樣的衰減。利用超聲波衰減測量結果和金相法獲得的晶粒尺寸繪制出如圖8-10所示的標準圖。觀察發現，在4MHz頻率下平均晶粒尺寸與超聲波衰減值之間成線性關系。對于待測晶粒尺寸，此圖最適于作為標準圖。如果現有一個成分、尺寸與標準試樣相同但晶粒度未知的試樣，那么就可以通過測量該試樣的超聲波衰減值并利用標準圖來估算其晶粒度。衰減法的主要缺點是忽略了耦合及衍射對測量結果的影響，而這些因素往往會導致結果錯誤。

衰減法的最大優點就是操作簡單，然而該方法的可靠性取決于耦合情況以及操作者對衍射修正等的估計，尤其是在較厚試樣上進行衰減法測量時更需要仔細考慮以上影響因素。因此，由于不容易得到一致的耦合條件，或由于不清楚探頭發射的聲束擴散角而難以精確估計對于超聲波衍射情況的修正，導致衰減法在實際應用中受到很大限制。

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